LAP-D2000干法全自動(dòng)激光粒度分析儀

我公司視“打造國(guó)產(chǎn)穩(wěn)定的激光粒度儀器”為己任，以科技創(chuàng)品牌、質(zhì)量闖市場(chǎng)、信譽(yù)贏天下為方針，全力打造超穩(wěn)定、高性價(jià)比的國(guó)產(chǎn)激光粒度儀器。D2000自上市以來贏得了廣大客戶的*。

LAP-D2000屬于干法全自動(dòng)激光粒度儀，被廣泛應(yīng)用到粉體行業(yè)，我公司針對(duì)不同行業(yè)設(shè)計(jì)了不同模板，客戶可根據(jù)自己需要選擇水泥模版、磨料模版等等。

智能型干粉激光粒度分析儀控制系統(tǒng)原理圖

LAP-D2000激光粒度分析儀主要性能特點(diǎn)：

*的光路設(shè)計(jì)：LAP-D2000采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力。*的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)及電腦操作系統(tǒng)彰顯出LAP-D2000人性化設(shè)計(jì)。

高穩(wěn)定光路優(yōu)化：*的設(shè)計(jì)讓LAP-D2000擁有了*的高穩(wěn)定光路，它采用了高穩(wěn)定、大功率光纖輸出激光器，優(yōu)良的配置使LAP-D2000擁有了*的穩(wěn)定性；主要光路采取了全封閉設(shè)計(jì)，保證了儀器在復(fù)雜環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試。

*的干法分散系統(tǒng)：D2000分散系統(tǒng)在法國(guó)理論數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，使LAP-D2000對(duì)干粉的分散更加均勻，*的負(fù)壓保證了進(jìn)料的連續(xù)性及均勻性，有效避免測(cè)試過程中干粉的相互粘連。

   探測(cè)器：LAP-D2000探測(cè)器采用了主探測(cè)器與副探測(cè)器結(jié)合的全新設(shè)計(jì)，保證了儀器全量程內(nèi)無(wú)縫探測(cè)，使測(cè)試更加準(zhǔn)確。主探測(cè)器設(shè)計(jì)了自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)儀器的一鍵自動(dòng)對(duì)中，彰顯人性化設(shè)計(jì)。同時(shí)有效避免手動(dòng)對(duì)中對(duì)探測(cè)器的損害，有效延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。

防塵、防震設(shè)計(jì)：儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì)，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的干擾，使結(jié)果測(cè)試更穩(wěn)定可靠。

光路自動(dòng)校對(duì)：光路微變，儀器可以自行對(duì)光路進(jìn)行調(diào)節(jié)，避免手動(dòng)調(diào)節(jié)時(shí)損壞探測(cè)器。

管道無(wú)殘留：測(cè)試完成后管道內(nèi)無(wú)殘留樣品，不會(huì)對(duì)下次測(cè)試造成干擾。

計(jì)算機(jī)控制喂料：測(cè)試人員可借助計(jì)算機(jī)控制儀器進(jìn)料量。

軟件：符合藥典GMP規(guī)定，具有電子簽名、權(quán)限設(shè)置、數(shù)據(jù)追蹤、數(shù)據(jù)不可更改等功能。

對(duì)于制藥行業(yè)客戶，可以提供3Q認(rèn)證。

測(cè)試界面

光路自動(dòng)對(duì)中功能圖

主要技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試報(bào)告：